原位拉伸樣品桿

【產(chǎn)品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位拉伸樣品桿，適用于雙噴、離子減薄樣品，樣品置于拉伸基片上，手動(dòng)和軟件兩種操控模式，可拉伸、可壓縮。

產(chǎn)品詳情

PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位拉伸樣品桿基于高精度壓電拉伸操控，最小步長小于100nm，適用雙噴或離子減薄樣品，是研究金屬材料、納米材料、薄膜材料力學(xué)行為的重要工具。

技術(shù)指標(biāo)

拉伸指標(biāo)

1.拉伸位移量：0-2mm；

2.拉伸速率：0.2um--50um/s；

3.拉伸步長：優(yōu)于100nm；

4.控制方式：搖桿控制或軟件控制；

5.軟件功能：拉伸/壓縮模式、拉伸條件預(yù)設(shè)。

    產(chǎn)品選型

    原位拉伸樣品桿

    澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號(hào)透射電子顯微鏡及極靴的不同型號(hào)原位拉伸樣品桿。

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