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掃描電鏡中的電子束對(duì)樣品有幾方面的影響：1.表面充電效應(yīng)：您已經(jīng)正確地指出了使用導(dǎo)電性樣品支撐或涂層，以及在樣品表面鍍覆導(dǎo)電材料可以減少表面充電效應(yīng)。此外，還可以通過調(diào)整掃描電鏡的工作模式（如使用環(huán)境掃描電子顯微鏡，它允許在較高壓力下工作，從而減少充電效應(yīng)）來減輕這一問題。2.樣品損傷：降低電子束的能量和減少暴露時(shí)間確實(shí)是減少樣品損傷的有效方法。此外，還可以通過優(yōu)化掃描模式（例如，使用快速掃描和慢速采集的組合）來減少樣品受到的輻射劑量。3.放射性偽影：您提到的使用低加速電壓和...

原位多場(chǎng)耦合樣品桿的使用涉及一系列精細(xì)的步驟和操作，以下是其使用的基本流程：一、準(zhǔn)備工作樣品準(zhǔn)備：根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求，選擇合適的樣品，并確保其尺寸和形狀與樣品桿兼容。設(shè)備檢查：檢查原位多場(chǎng)耦合樣品桿及其附件是否完好無損，確保無松動(dòng)或損壞的部件。環(huán)境準(zhǔn)備：確保實(shí)驗(yàn)環(huán)境干凈、無塵，以減少對(duì)樣品的污染。二、安裝與調(diào)試安裝樣品：將準(zhǔn)備好的樣品固定在樣品桿上，確保樣品穩(wěn)定且位置準(zhǔn)確。連接設(shè)備：將樣品桿連接到電鏡或其他分析設(shè)備上，確保連接穩(wěn)固、無松動(dòng)。調(diào)試與校準(zhǔn)：根據(jù)設(shè)備說明書，對(duì)原位多場(chǎng)耦合...

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，各類法醫(yī)和犯罪現(xiàn)場(chǎng)證據(jù)的微觀分析對(duì)偵破案件的重要性日益增強(qiáng)。電鏡作為一種高分辨微觀工具，在法醫(yī)和犯罪現(xiàn)場(chǎng)搜證方面有巨大的應(yīng)用價(jià)值。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18臺(tái)式掃描電鏡，利用其超高的圖像分辨率，可以觀察到肉眼無法識(shí)別的細(xì)微痕跡，為警方提供詳盡而關(guān)鍵的物證，科學(xué)地偵破許多看似復(fù)雜的刑事案件。例如在涉水死亡案件中，ZEM18臺(tái)式掃描電鏡可以通過人體組織內(nèi)殘留的硅藻種類、數(shù)量和狀態(tài)判斷受害者是生前落水還是死后落水。此外，ZEM18掃描電鏡可以檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)殘留物，如...

ZEM18作為澤攸科技自主研發(fā)的高分辨臺(tái)式掃描電子顯微鏡，在半導(dǎo)體領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。典型案例如下:【晶圓缺陷檢測(cè)】利用ZEM18電鏡直接成像觀察晶圓表面，可以清晰展現(xiàn)出微小劃痕、顆粒污染等各類缺陷情況。根據(jù)圖像結(jié)果判斷缺陷源頭，以優(yōu)化制程，提高生產(chǎn)良率?！竟饪坦に嚈z測(cè)】使用ZEM18電鏡可以在微米量級(jí)直接刻畫光刻膠層的側(cè)壁形貌及斷口形態(tài)。幫助評(píng)估光刻質(zhì)量與曝光量效應(yīng)，優(yōu)化曝光量設(shè)置?！窘饘倩ミB觀測(cè)】ZEM18高倍成像可以清晰展現(xiàn)芯片互連結(jié)構(gòu)中的空隙缺陷、線邊斷裂情況，有助于...

澤攸科技JS系列高精度臺(tái)階儀是一款先進(jìn)的自主研發(fā)的國產(chǎn)臺(tái)階儀，采用了先進(jìn)的掃描探針技術(shù)。通過掃描探針在樣品表面上進(jìn)行微觀測(cè)量，臺(tái)階儀能夠準(zhǔn)確獲取表面形貌信息。其工作原理基于探針與樣品表面的相互作用力，通過測(cè)量探針的微小位移，實(shí)現(xiàn)對(duì)表面高度差異的檢測(cè)。其性能特點(diǎn)包括：1.高精度：臺(tái)階儀可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)別的測(cè)量，能夠揭示微觀結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)和特征。2.大行程超精密平面掃描：具備70mm的大行程，優(yōu)于20nm/2mm，能夠高效地獲取表面形貌數(shù)據(jù)。3.大帶寬大行程納米微動(dòng)臺(tái)：擁有80um的大行...

近年來，中國科技創(chuàng)新實(shí)力逐漸嶄露頭角，而在電子顯微鏡領(lǐng)域，澤攸科技（ZEPTOOLS）的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡正促進(jìn)行業(yè)的新風(fēng)向。自2019年10月16日在全國電子顯微學(xué)會(huì)年會(huì)上展示了國內(nèi)自主研發(fā)的國產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡ZEM15以來，該系列掃描電鏡憑借其出色的性能和自主研發(fā)的技術(shù)特色，逐漸在國內(nèi)外市場(chǎng)上贏得了廣泛認(rèn)可和青睞。ZEM15臺(tái)式掃描電鏡展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡的問世標(biāo)志著中國在電子顯微鏡領(lǐng)域邁出了重要的一步。作為全球電鏡市場(chǎng)上的新興科技品牌，澤攸科技不僅僅是帶來了...

二維材料轉(zhuǎn)移臺(tái)是一種重要的設(shè)備，主要用于二維材料的精確轉(zhuǎn)移和定位。準(zhǔn)備階段：確保二維材料轉(zhuǎn)移臺(tái)放置在穩(wěn)定的工作臺(tái)上，避免振動(dòng)和干擾。檢查電源和連接線路，確保設(shè)備正常供電。根據(jù)需要選擇合適的二維材料和目標(biāo)基底。安裝和固定基底：使用雙面膠帶或真空泵將目標(biāo)基底固定在襯底固定臺(tái)上。確?；坠潭ɡ喂?，避免在轉(zhuǎn)移過程中發(fā)生移動(dòng)。對(duì)準(zhǔn)和定位：通過顯微鏡觀察，找到Si襯底上的電極圖案或已經(jīng)轉(zhuǎn)移好的二維材料。將目標(biāo)位置固定在顯微鏡視野中央，以便進(jìn)行精確轉(zhuǎn)移。二維材料的轉(zhuǎn)移：使用PDMS（聚二甲...

全自動(dòng)臺(tái)階儀的測(cè)量精度和重復(fù)性是評(píng)估其性能的重要指標(biāo)。通常，測(cè)量精度要求全自動(dòng)臺(tái)階儀能夠準(zhǔn)確地測(cè)量出微小的高度差，而重復(fù)性則要求其能夠保證測(cè)量結(jié)果的穩(wěn)定性。為了評(píng)估全自動(dòng)臺(tái)階儀的測(cè)量精度，可以采用已知準(zhǔn)確高度的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行測(cè)試，并比較測(cè)量結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)樣品的實(shí)際高度差。此外，可以通過多次重復(fù)測(cè)量同一樣品的高度，計(jì)算測(cè)量結(jié)果的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差，以評(píng)估全自動(dòng)臺(tái)階儀的重復(fù)性。在實(shí)際應(yīng)用中，全自動(dòng)臺(tái)階儀的測(cè)量精度和重復(fù)性受到多種因素的影響，如儀器的設(shè)計(jì)、制造工藝、操作環(huán)境、操作人員技能等。...